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经常跑分很伤害硬盘吗?这些跑分软件靠谱吗?宏旺半导体解答

日期: 2020-06-18
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在科技圈,无论是品牌厂商还是消费者都人文“跑分即性能”,尤其是对于固态硬盘来说,跑分测试成绩还是能够很好的反映出产品性能强弱的。通常,影响固态硬盘数据存储安全的因素主要包括闪存的PE擦写次数、固件的优化,还有就是产品主控、PCB等用料设计,坦率来说固态硬盘产品的设计和用料对于普通消费者来说很难辨别。

 

有哪些靠谱的跑分软件?

 

宏旺半导体了解到,一般对固态硬盘进行跑分时采用的测试软件有鲁大师、AS SSD Benchmark、CrystalDiskMark、CrystalDiskInfo、ATTOBenchmark等等。

 

首先是AS SSD BenchMark,这也是一款普及度很高的固态硬盘测试软件,除了常规的性能测试以外,这款软件还可以直接看到固态硬盘的4K是否对齐,这一点对于固态硬盘性能的发挥很重要。AS SSD可以在MB/s和IOPS两种测试单位之间互相转换,常规意义上我们一般用MB/s来表示固态硬盘的连续读写性能,用IOPS来表示固态硬盘的随机读写性能,在这里我们主要看随机读写性能即可。

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CrystalDiskMark,简称CDM,属于较为早期的测试软件。它涵盖了连续读写、512KB和4KB数据包随机读写性能,以及队列深度为32的情况下的4K随机性能。队列深度描述的是硬盘能够同时激活的最大IO值,队列深度越大,实际性能也会越高。该软件读写速度测试倾向于非压缩算法,而非压缩算法SSD具备不掉速的特性。默认队列深度为1,默认测试次数为5次,每次测试1GB的数据量,最大支持32GB,不过一般测试情况下保持默认即可。

 

跑分会对固态硬盘伤害大吗?

 

固态硬盘作为存储部件,跑分肯定会产生写入和读取,不可避免地会增加闪存磨损。不过宏旺半导体想说的是,磨损的程度却因程序而异。像AS SSD Benchmark这类写完数据就删除的测试,固态硬盘可以利用SLC缓冲区延缓释放的策略来减少实际对TLC闪存的擦写次数,降低跑分对硬盘寿命产生的影响。这样一来,跑分不仅是一时爽,还能一直跑一直爽。

 

随着全新的PCle 4.0规范的到来,M.2 SSD在性能的确有了巨大提升,但同时也面临了更严峻的考验。众所周知,高性能的M.2SSD一直饱受发热困扰,发热增加带来的负面影响就是过热保护,一旦达到了温度上限,SSD就会采取降低主控频率等措施减少发热,这时候就必然会影响SSD性能。

 

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为了确保最佳性能,宏旺半导体这款固态硬盘在散热上也是下足了功夫,旺半导体推出的M.2 NVME SSD具有体积小、静音、超高的读写性能、启动速度快、抗振耐冲击等优点,采用高速的PCIE3.0 控制器,集成环境温度传感IC和浪涌保护电路,能应付各种苛刻的环境。最重要的是,有着专业的服务和产品品质保障,是国内存储玩家必不可少的选择之一。除了主控的智能温控之外,这款固态硬盘散热效果也是十分显著,能够很好的保障SSD在长时间高速运行下拥有极速稳定的性能。


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